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【2h】

A Cost-Effective Scan Architecture for Scan Testing with Non-Scan Test Power and Test Application Cost

机译：具有非扫描测试能力和测试应用程序成本的扫描测试的经济高效扫描架构

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Dong Xiang; Shan Gu; Jia-guang Sun; Yu-liang Wu;
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年度 2003
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2. Low-Power Scan Testing for Test Data Compression Using a Routing-Driven Scan Architecture [J] . Dong Xiang, Dianwei Hu, Qiang Xu, Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on . 2009,第7期

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